老化锁紧座是一种专为老化测试而设计的高稳定性IC插座。它内部集成了精密的机械锁定机构，用于在测试过程中将被测芯片牢牢地、稳定地锁紧在插座内，确保电气接触的绝对可靠。
优点：
提供恒定压力：通过锁紧机构，无论处于常温还是高温，都能为芯片引脚提供持续、均匀的接触压力，抵消热膨胀带来的形变，确保接触电阻稳定。
确保电气连接稳定性：确保在整个老化测试周期内，电源、地和所有信号线的连接万无一失，避免因接触问题导致的误判。
满足高插拔寿命：采用特殊耐磨材料（如铍铜、特殊合金）的接触件和坚固的机械结构，能承受数万次操作。
